压电平台扫描型FLIM系统
德国Becker&Hickl GmbH公司的压电平台扫描型FLIM显微镜系统,基于压电扫描平台和荧光显微镜,虽然扫描速度比振镜扫描的系统要慢一些,但由于配置简单,系统灵活多变,价格经济等优点,极其适用于对成像速度要求不高的实验。
激发光源可采用皮秒半导体激光器,超连续谱白光激光器等,探测器可以选用高灵敏度混合型探测器或者多光谱探测器等。
整套系统可以用于荧光寿命成像(FLIM),单分子实验,FCS实验等。
压电平台扫描型FLIM显微镜系统采用压电扫描平台对样品进行扫描,激发光源可采用通用的皮秒脉冲激光器,超连续谱白光激光器等产品,FLIM探测采用时间相关单光子计数器(TCSPC)及探测器。
整套系统需要将压电扫描平台和TCSPC系统结合起来,通用的方法有两种。
第一种方法是利用压电扫描平台控制器输出的时钟扫描信号作为TCSPC系统的同步扫描信号。关于压电扫描平台,一般可以采用配套的扫描控制器和扫描控制软件进行扫描控制,而控制器一般可以产生时钟扫描信号,采用压电平台控制器的时钟扫描信号作为FLIM采集的同步扫描信号,就可以很容易的实现荧光寿命成像采集。
另外一种方式是采用德国Becker&Hickl GmbH公司的扫描控制器GVD-120,。GVD-120扫描控制器可以针对XY坐标输出模拟信号,扫描速度、回扫,图像的分辨率都可以进行控制。GVD-120在控制压电平台时可以同步输出时钟扫描信号至TCSPC系统,从而实现荧光寿命成像功能。
目前市面上常用的德国PI公司的平台或者美国MCL公司的相关压电平台都可以应用到压电扫描型FLIM系统中。而显微镜则可以选用Zeiss,Leica,Nikon或者Olympus公司的多款不同型号的显微镜。配置简单,系统灵活多变,且价格经济,欢迎您来电垂询!
压电平台扫描型FLIM系统的典型应用如下:
1.荧光寿命成像FLIM

2. 荧光寿命测量

3.荧光相关光谱FCS

4.STED超分辨率成像
压电平台扫描型FLIM系统结构图如下:

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